- Single-event upset (SEU), “Одиночный сбой”: тяжёлый ион сталкивается с чувствительной зоной интегральных схем, создаётся заряд в электронно-дырочной форме. Изменяется логическое состояние устройства. Мягкая ошибка, если обратимая; но не мягкая, если она в системе контроля/системе принятия решений (ложное включение двигателя).
- Single-event latch-up (SEL), “Защёлкивание в результате единичного события”: выгорание полупроводниковых транзисторов / создание токопроводящей дорожки, что ведёт к защёлкиванию устройства.
- Эрозия оценивается как реакционная эффективность 10−24 см3/атом. Она варьируется 0.01−0.09 для каптона, 2−4 для полиетилена
- Методы исправления ошибок:
- Резервирование
- Самоконтролирующиеся схемы
- Программный поиск и исправление
- Тестирование программ
- Контрольные хранилища
- Откат для восстановления